儀器名稱 | X射線衍射儀(X‘Pert Pro MPD) |
規格型號 | X‘Pert Pro MPD |
生產廠家 | 荷蘭Nalytical 公司 |
儀器簡介 | X射線粉末衍射儀由X射線發生器(X光管)、測角儀、探測器,以及計算機系統組成。X光管為Cu靶,最大電壓60kV,最大電流55mA,最大輸出功率3kW。測角儀為樣品水平放置型,2θ角度范圍1°~160°,在測試過程中樣品位置保持不變,X光管和探測器繞樣品相對轉動。預校準光路全模塊化,不同光路系統及各種樣品臺等附件均可以在幾分鐘內實現高精度的更換。PIXcel探測器接收效率、靈敏度、穩定性高。配備相應軟件及PDF-2國際粉末衍射數據庫,可進行物相定性定量分析,點陣參數測定。該儀器用于干法分離技術中釷鈾氟鹽的高溫電解產物、氟鹽高溫水解產物的物相分析。 |
性能指標 | X光管:銅靶 最大功率:2.2 kW 最大管壓:60 kV 最大管流:55 mA 焦斑:長細焦斑(12X0.4 mm) 測試溫度:室溫~1200℃ 測角儀: 掃描方式為θ/θ或2θ/θ,模式角度重現性為±0.0001°(空載) ; 探測器: PIXcel探測器,1D。 |
測試項目 | 粉末、或片狀樣品的物相分析 |
樣品要求 | 樣品可以是金屬、非金屬、有機、無機材料粉末。金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面,面積不小于10X10毫米,如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向,衍射強度異常。因此要求測試時合理選擇響應的方向平面。 對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變),測量殘余奧氏體,要求樣品不能簡單粗磨,要求制備成金相樣品,并進行普通拋光或電解拋光,消除表面應變層。 粉末樣品要求磨成320目的粒度,約40微米。粒度粗大衍射強度底,峰形不好,分辨率低。要了解樣品的物理化學性質,如是否易燃,易潮解,易腐蝕、有毒、易揮發。 粉末樣品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。 |
設備負責人 | 設備負責人:蔣鋒 聯系電話: Email:jiangfeng@sinap.ac.cn |