| 儀器名稱 | X射線衍射儀（D8 Advance） |
| 規格型號 | D8 Advance |
| 生產廠家 | 德國Bruker |
| 儀器簡介 | X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫（~1200℃）條件下的X射線衍射，能夠提供粉末、塊狀、液態的多晶樣品的常規物相分析和半定量分析，晶胞參數的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結晶度測定。還可對材料的殘余應力、織構及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成，具有優異的分辨率及信噪比；探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上，普通樣品可在7分鐘左右測試完成；具有優異的能量分辨率，無需單色器，即可有效去除含鐵樣品的熒光。步進馬達加光學編碼精密測角儀可使角度重現性達到±0.0001°，是目前最高精度的測角儀。 |
| 性能指標 | 工作功率：1.6kW（40kV，40mA） 靶材：銅靶、鈷靶 探測器：LynxEye XE陣列探測器 掃描范圍：0°～140 ° 測角儀精度：0.0001° 準確度≤0.02° 測試溫度：室溫～ 1200℃ 多功能樣品臺：標準樣品臺、尤拉環樣品臺、高溫樣品臺 |
| 測試項目 | X射線粉末衍射X射線掠入射衍射高溫X射線衍射（室溫~1200℃）應力測試織構測試 |
| 樣品要求 | 塊狀樣品標準尺寸：10*10*1mm (厚度最多不要超過12mm)要求樣品表面平整粉末樣品要求顆粒不超過400目 |
| 設備負責人 | 設備負責人：賈彥彥 聯系電話： Email：leiguanhong@sinap.ac.cn |
