| 儀器名稱 | 透射電子顯微鏡 |
| 規格型號 | Tecnai G2 F20 S-TWIN |
| 生產廠家 | 美國 FEI公司 |
| 儀器簡介 | 透射電子顯微鏡是利用經加速和聚集的電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備。主要應用于對材料的內部微觀結構分析，配合能譜儀可以對微區進行定性及半定量的成分分析。 |
| 性能指標 | 電子槍：FEG場發射電子槍 加速電壓：200 kV 放大倍數： 25X – 1050000X 點分辨率： 0.24nm 線分辨率： 0.14 nm 掃描透射分辨率：0.19nm 樣品臺最大傾斜角：α±40°β±30° 元素檢測范圍：5B-92U； 能譜能量分辨率: 136ev CCD相機：Gatan公司832相機 樣品桿： 美國FEI公司單傾樣品桿、低背景雙傾樣品桿 美國Gatan公司雙傾加熱樣品桿（室溫-800℃）、單傾拉伸樣品桿（0-1500微米） |
| 測試項目 | 低倍形貌像、高分辨像 (HRTEM)、衍襯像（明、暗場像）、高角環形暗場像（Z-襯度像）、選區電子衍射、會聚束電子衍射以及元素的點、線和面分析 |
| 樣品要求 | 塊體材料：直徑3mm圓片（不提供制樣服務）粉末材料：碳支持膜分散其他材料：客戶自制 |
| 設備負責人 | 設備負責人：劉仁多 聯系電話： Email：liurenduo@sinap.ac.cn |
