| 儀器名稱 | 高溫離子束輻照終端 |
| 規格型號 | 研制 |
| 生產廠家 | 研制 |
| 儀器簡介 | 離子束輻照終端，可以提供0.5-3MeV能量的H、He、Ar、Xe、Kr等離子，進行高溫離子束輻照實驗；最高溫度可達950℃，可以研究材料的抗輻照性能，也可用于其它種類樣品的離子束輻照。 |
| 性能指標 | 1 束斑尺寸: Ф3~15 mm可調； 2 輻照范圍:＜15 x 15 mm2； 3 溫度范圍：-196 ℃~ 950℃； (液氮制冷，熱電偶、紅外測溫) 4真 空 度：優于1x10-4 Pa ； 5 裝樣品數：最多15 個； 6離子種類：H、He、Ar、Xe、Kr等離子； 7離子能量：0.5-3 MeV |
| 測試項目 | 1、常溫離子束輻照2、高溫離子束束輻照3、低溫離子束束輻照 |
| 樣品要求 | 固體樣品，標準樣品尺寸：6.5*10*1mm。特殊實驗請與設備負責人聯系。 |
| 設備負責人 | 設備負責人：雷前濤 聯系電話： Email：leiqiantao@sinap.ac.cn |
